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          美国Raytek/FLUKE红外测温仪、热像仪、示波表及FLUKE环境专家系列 美国GE/DRUCK压力校验仪、FLUKE工业过程校准及测试工具 美国LEE/英国牛津/德国EPK/CEM涂层测厚仪 加拿大BW/美国霍尼韦尔气体检测仪 日本三菱/法国施耐德/日本欧姆龙/美国AB可编程控制器(PLC)、变频器 日本三菱伺服控制系统、触摸屏 及低压产品 3M通讯耳罩、无限通讯降噪、环境声音及机场地勤通讯解决方案 瑞士莱卡激光测距仪及博世专业测量工具 英国帕尔玛地下管线探测、供水管网、电力电缆、管道防腐检测工具    
          公司新闻

          DCMI233牛津测厚仪的应用

           
            1、DCMI233牛津测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
            2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,沧州欧谱从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
            3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
            4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
            5、DCMI233牛津测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
            6、超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。




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